EMI測(cè)試系統(tǒng)是通過(guò)測(cè)量受試設(shè)備在正常工作狀態(tài)下產(chǎn)生并向外發(fā)射的電磁波信號(hào)的大小來(lái)反應(yīng)對(duì)周?chē)娮釉O(shè)備干擾的強(qiáng)弱，電磁騷擾試驗(yàn)主要包括傳導(dǎo)發(fā)射、輻射發(fā)射、功率騷擾、磁感應(yīng)電流、喀嚦聲騷擾、電流諧波、電壓波動(dòng)與閃爍等，電磁干擾是由干擾源、耦合通道和EMI接收器三部分構(gòu)成的，通常稱(chēng)作干擾的三要素。

 

　　該系統(tǒng)采用windows作為載體，使用者如熟悉windows的操作便可很快上手。該機(jī)可獨(dú)立進(jìn)行測(cè)試工作無(wú)須外加其他控制設(shè)備對(duì)其進(jìn)行控制操作，從根本上解決了干擾源的問(wèn)題。其測(cè)量結(jié)果可輸入接收機(jī)內(nèi)硬盤(pán)或通過(guò)軟驅(qū)存入軟盤(pán)或直接打印輸出或使用USB存儲(chǔ)設(shè)備保存。

 

　　EMI測(cè)試系統(tǒng)在硬件和軟件上有諸多創(chuàng)新，突出亮點(diǎn)有：

 

　　1、利用可編程的人機(jī)協(xié)作機(jī)械臂，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化掃描過(guò)程。

 

　　2、工作頻率覆蓋30MHz-8GHz（可擴(kuò)展至18GHz）。

 

　　3、支持頻譜儀（SA）和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）等儀器的控制和數(shù)據(jù)讀取。

 

　　4、支持近場(chǎng)掃描、遠(yuǎn)場(chǎng)掃描以及遠(yuǎn)場(chǎng)到近場(chǎng)的場(chǎng)波變換。

 

　　通過(guò)EMI測(cè)試系統(tǒng)提供的測(cè)試平臺(tái)和操作軟件，可實(shí)現(xiàn)頻率電磁干擾噪聲源自動(dòng)掃描和定位，給用戶(hù)提供更多噪聲源信息，以便進(jìn)行相應(yīng)的電磁干擾診斷和抑制。近場(chǎng)掃描通過(guò)安裝在機(jī)械臂的探頭進(jìn)行掃描，使用頻譜儀（SA）或矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）可獲得掃描平面上被測(cè)件輻射場(chǎng)的幅度信息。遠(yuǎn)場(chǎng)ESM掃描額外增加一個(gè)參考探頭，使用VNA來(lái)獲取掃描平面上場(chǎng)的幅值和相位。遠(yuǎn)場(chǎng)ESM掃描可將掃描平面上的輻射場(chǎng)變換到近場(chǎng)高度，從而對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)輻射源進(jìn)行有效定位。