GTEM小室是在橫電磁波室(TEM室)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來一種新型電磁兼容測(cè)試設(shè)備。后者本身具有結(jié)構(gòu)封閉，不向外輻射電磁能量，不影響操作人員健康和不干擾其它儀器的工作；由于結(jié)構(gòu)封閉的特點(diǎn)，亦不受外界環(huán)境及干擾的影響；工作頻率較寬，可從DC～1000MHz，甚至更高；場(chǎng)強(qiáng)范圍大，從強(qiáng)場(chǎng)(如300V/m)至弱場(chǎng)(如10μV/m)均可測(cè)試，且場(chǎng)值控制容易。
GTEM小室可以代替電磁兼容暗室進(jìn)行輻射抗擾度測(cè)試，具有工作頻率寬、內(nèi)部場(chǎng)強(qiáng)均勻、屏蔽效能好，試驗(yàn)中能量利用率高等優(yōu)點(diǎn)。GTEM小室是錐形的同軸線結(jié)構(gòu),在芯板周圍激勵(lì)出橫電磁波，波阻抗377歐姆。GTEM小室可以在給定的工作空間區(qū)域內(nèi)提供非常好的場(chǎng)均勻性和場(chǎng)的再現(xiàn)性,也非常適用于場(chǎng)的校準(zhǔn)。GTEM小室在做干擾測(cè)試和抗干擾度測(cè)試時(shí)，較開闊場(chǎng)和暗室測(cè)試都更方便、靈活、節(jié)省空間和成本。
GTEM小室構(gòu)成的輻射敏感度(抗擾度)測(cè)試系統(tǒng)為小型電子產(chǎn)品的輻射電磁場(chǎng)干擾敏感性提供有力的測(cè)試依據(jù)。測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)成：主要由標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源、功率放大器、場(chǎng)強(qiáng)監(jiān)視器、計(jì)算機(jī)及操控軟件和GTEM 室體組成。
GTEM的組成：
GTEM可看成是：為容下被測(cè)對(duì)象，將50Ω同軸電纜進(jìn)行空間上的擴(kuò)展。同軸電纜的芯線被擴(kuò)展為GTEM小室的內(nèi)導(dǎo)體芯板，同軸電纜的外皮被做成GTEM小室的外殼。GTEM小室內(nèi)部的特性阻抗仍然被設(shè)計(jì)成50Ω，為了減小輸入的電磁波在內(nèi)部腔體的末端產(chǎn)生反射，把芯板的末端接到了寬帶的匹配負(fù)載板上，在腔體的末端還安放了吸波材料以便將發(fā)射到末端的電磁波吸收。
GTEM小室是根據(jù)同軸及非對(duì)稱矩形傳輸線原理設(shè)計(jì)而成的設(shè)備。為避免內(nèi)部電磁波的反射和諧振，GTEM小室在外形上被設(shè)計(jì)成尖錐型，其輸入端采用N型同軸接頭，隨后中心導(dǎo)體展平成為一塊扇形板，稱為芯板。在小室的芯板和底板之間形成矩形均勻場(chǎng)區(qū)。GTEM小室的端面還貼有吸波材料，用它對(duì)頻率的電磁波做進(jìn)一步吸收，因此在小室的芯板和底板之間產(chǎn)生了一個(gè)均勻場(chǎng)強(qiáng)的測(cè)試區(qū)域。試驗(yàn)時(shí)，試品被置于測(cè)試區(qū)中，為了做到不因試品置入而過于影響場(chǎng)的均勻性，試品以不超過芯板和底板之間距離的1/3高度為宜。
主營產(chǎn)品：
TEM小室，GTEM小室，測(cè)試儀器儀表，屏蔽室，電波暗室，電磁兼容
更新時(shí)間：2024-11-06 
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